低温试验大纲
发布时间:2016-10-08 点击: 次 编辑:BJHTJS
1、概述
根据GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验,进行
试验目标的低温试验。

2、试验目的
验证设备在低温环境下的适应性。
3、检验依据
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验。
4、试验样品
6、试验方法
6.1 严酷程度
低温贮存温度-25℃,持续时间为72h。
低温工作温度-10℃,持续时间为16h。
6.2 试验条件
低温贮存试验条件按GB/T 2423.1-2008中“5.3试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验”的要求,带包装进行低温贮存。试验前及试验后按XXX的要求,测试设备的主要功能
低温工作试验条件按GB/T 2423.1-2008中“5.4试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验----试验样品在整个试验过程通电”的要求。试验前、试验中及试验后按XXX的要求,测试设备的主要功能。
6.3 试验程序
6.3.1 预处理
将试验样品放置在试验大气条件下,直至达到温度稳定。
6.3.2 初始检验
将试验样品(含包装)放置在试验箱中,检测样品外观及主要功能。
6.3.3 试验
试验温度稳定在-25℃(或样品温度稳定在-25℃)后保持温度72小时,设备以贮存状态进行试验。
试验温度稳定在-10℃(或样品温度稳定在-10℃)后保持温度16小时,设备以工作状态进行试验。
6.3.4 恢复
样品在试验用的正常大气条件下恢复,直至达到温度稳定,恢复时间小于2h。
6.2.5 最后检验
检验样品的外观和主要功能。
7、合格判据
试验样品经低温试验后,外观无明显变化,试验中及试验后样品的主要功能满足要求,则试验合格。
8、试验记录
由试验负责方记录试验情况,并出具试验报告。
由检验员按试验大纲的要求测试设备的工作情况,并将测试的数据整理,做出测试结论,作为试验报告的测试数据附在报告内容中。
验证设备在低温环境下的适应性。
3、检验依据
GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验。
4、试验样品
名称 | 型号 | 尺寸(毫米) | 备注 |
5、试验箱
参照试验样品的尺寸的要求选择合适的试验箱。6、试验方法
6.1 严酷程度
低温贮存温度-25℃,持续时间为72h。
低温工作温度-10℃,持续时间为16h。
6.2 试验条件
低温贮存试验条件按GB/T 2423.1-2008中“5.3试验Ab:非散热试验样品温度渐变的低温试验”的要求,带包装进行低温贮存。试验前及试验后按XXX的要求,测试设备的主要功能
低温工作试验条件按GB/T 2423.1-2008中“5.4试验Ae:散热试验样品温度渐变的低温试验----试验样品在整个试验过程通电”的要求。试验前、试验中及试验后按XXX的要求,测试设备的主要功能。
6.3 试验程序
6.3.1 预处理
将试验样品放置在试验大气条件下,直至达到温度稳定。
6.3.2 初始检验
将试验样品(含包装)放置在试验箱中,检测样品外观及主要功能。
6.3.3 试验
试验温度稳定在-25℃(或样品温度稳定在-25℃)后保持温度72小时,设备以贮存状态进行试验。
试验温度稳定在-10℃(或样品温度稳定在-10℃)后保持温度16小时,设备以工作状态进行试验。
6.3.4 恢复
样品在试验用的正常大气条件下恢复,直至达到温度稳定,恢复时间小于2h。
6.2.5 最后检验
检验样品的外观和主要功能。
7、合格判据
试验样品经低温试验后,外观无明显变化,试验中及试验后样品的主要功能满足要求,则试验合格。
8、试验记录
由试验负责方记录试验情况,并出具试验报告。
由检验员按试验大纲的要求测试设备的工作情况,并将测试的数据整理,做出测试结论,作为试验报告的测试数据附在报告内容中。